Home

Dept. Micro- and Nanostructures

 

GD-Veröffentlichungen

RSV - Colloquium 1979

RSV - Colloquium 1981

PTB - Bericht

 

Anwendertreffen

15. Anwendertreffen in Dresden "Analytische Glimmentladungsspektrometrie"

Programm:

 

Mittwoch, der 23. November 2011

10:00

Begrüßung

Prof. Jürgen Eckert, Direktor des IKM am IFW Dresden

10:20

Untersuchungen gepulster Glimmentladung und Anwendung für die Analyse von Solarzellen

Varvara Efimova, Volker Hoffmann, IFW Dresden

10:40

Die mikrosekunden-gepulste Glimmentladung als Strahlungs- und Ionenquelle für analytische Glimmentladungen

Maxim Voronov, IFW Dresden

11:00

Von Bulk- zu Dünnschicht-Analysen - neue Erkenntnisse mit der µs-gepulsten GD-MS

Cornel Venzago, Thomas Hofmann und Petr Smid, AQura GmbH

11:20

Massive H-Standards zur Kalibration

Volker Hoffmann, IFW Dresden

11:40

Diskussion und Vorstellung der Poster

13:00

Mittagessen

14:00

Einsatz der Glimmentladungsspektroskopie im Alltag einer Materialprüfanstalt

Gerd Teichert, Marcus Wilke, MFPA Weimar

14:30

Einsatz der Glimmlampenspektrometrie für die Betriebsanalytik an Beschichtungsanlagen

Thomas Brixius, Marcel Gosens, Juan Müller, Michael Stang, Nicole Weiher, ThyssenKrupp Steel Europe AG

15:00

GDOES zur Kleinbereichsanalyse an metallographischen Schliffen

Michael Köster, TAZ GmbH

15:30

Analyse von multinären PVD N-Schichten auf Magnesium-substraten mittels der Glimmentladungsspektroskopie

Holger Hoche, Stefan Groß, Heiko Daum, Kompetenzbereich Werkstoffanalytik, Technische Universität Darmstadt

16:00

Abfahrt zur Schlossführung und zum Dinner im Schloss Moritzburg

17:00

Führung im Barockschloss

18:00

Dinner

21:30

Rückfahrt von Moritzburg nach Dresden

 

Donnerstag, der 24. November 2011

9:00

Neuentwicklungen der Firma Spectruma

Michael Analytis, Rüdiger Meihsner, Spectruma Analytik GmbH

9:30

Neues von LECO

Andre Klostermeier, LECO Instrumente GmbH

10:00

Spuren molekularer Gase in GD Plasmen - neue Entwicklungen

E.B.M. Steers, London Metropolitan University

10:30

Plasma Profiling MassSpectrometry (PPMS) zur Analyse von Element- und Isotopenverteilungen in Oberflächen und Schichten

Rainer Nehm, RN, HORIBA Scientific

11:00

Gegenwärtiger Stand des ELEMENT GD

Joachim Hinrichs, Lothar Rottmann, Thermo Fisher Scientific

11:30

Allgemeine Diskussion

12:30

Beratung der Anwender

13:00

Mittagessen

14:00

Führung durch das GD-OES Labor des IFW Dresden

 

Poster:

Surface characterization of thermally processed, stainless steels by GD-OES

G. Tschopp, Y. Wu, S. Kleiner, T. Nelis, M. Baak, J.-M. Rufer


Rapid analytical assistance for plasma deposition by GD-OES

E. Barisone, G. Girard, G. Tschopp, T. Nelis, L. Roske, Y. de Puydt, L. Dupuy, P. Raynaud

 

 

Kontakt:

Dr. rer. nat. Volker Hoffmann

mail address:
Dr. Volker Hoffmann
Leibniz-IFW-Dresden, P.O.B. 27 00 16
D-01171 Dresden

phone: +49 351 4659 691
fax: +49 351 4659 452
email: v.hoffmann@ifw-dresden.de