Spectrometric Solid State Analysis
Arbeitsgruppe "Spektroskopische Festkörper Elementanalyse"
ArbeitsgruppenleiterDr. rer. nat. Volker Hoffmann Postanschrift: Dr. Volker Hoffmann Leibniz-IFW-Dresden, P.O.B. 27 00 16 D-01171 Dresden Telefon: +49 351 4659 691 Fax: +49 351 4659 452 email: v.hoffmann@ifw-dresden.de |  |
TeamDr. Varvara Efimova - Ph.D. student Romy Keller - Laborarbeiterin |
Die Arbeitsgruppe “Spektroskopische Festkörper Elementanalyse" führt Elementaranalysen an festen Materialien durch und forscht aktiv auf dem Gebiet der analytischen Glimmentladung.
Die Gruppe verfügt über langjährige Erfahrungen bei der Präparation und Analyse von gepressten, pulverförmigen Proben, die sich auch als Kalibrationsmaterialien gut bewährt haben [1]. Neuartige Ergebnisse wurden bei der Ermittlung der Intensitätsverteilung des emittierten Lichtes in der GD-OES [2] sowie bei der Ermittlung des Einflusse des Karaterprofils auf die Tiefenauflösung [3-5] erzielt.
In den letzten Jahren waren wir bemüht, die Hardware für die Hochfrequenzanalyse nichtleitender Proben weiter zu entwickeln. Diese neue Hardware [6] wurde innerhalb eines BMBF-Projektes gemeinsam mit der LECO INSTRUMENTE GMBH entwickelt. Anschließend war das IFW in zwei Europäischen Projekten aktiv an der Entwicklung einer matrixunabhängigen Quantifizierung der mit der HF-GD-OES gemessenen Tiefenprofile beteiligt [7]. In diesem Zusammenhang wurde gemeinsam mit der BAM Berlin im Rahmen der Promotion von Herrn Dan Hodoroaba systematisch der Einfluss des Wasserstoffes untersucht. Weiterhin wurden interessante Ergebnisse bei der Auswertung eines Interferenzeffektes bei der Analyse transparenter Schichten erzielt [8].
Der Schwerpunkt der gegenwärtigen Arbeiten ist auf die Verbesserung der HF-Messtechnik zur exakten Bestimmung der elektrischen Parameter gerichtet, die dann als Parameter für die Quantifizierung dienen.
Auf dem Gebiet der Massenspektrometrie arbeiten wir mit dem hochauflösenden Hochfrequenz Massenspektrograph MS7 von AEI. Das Gerät wird ausschließlich für die halbquantitative Übersichtsanalyse jeglicher Art von Proben, auch Pulver, eingesetzt, wobei Nachweisgrenzen im sub μg/g Bereich erzielt werden.
Die Arbeitsgruppe "Spektrometrische Festkörper Elementaranalyse" ist ein aktives Mitglied des Marie Curie RTN Analytical Glow Discharge Network GLADNET. Nähere Details finden Sie auf folgender Webseite:
Gegenwärtige Forschungsschwerpunkte
Hardware developments for RF-GD-OES
Dr. V. Hoffmann, Dr. L. Wilken
Optimization of a GD-OES-Source for measurements of thin layers
Dr. V. Hoffmann, Dr. D. Klemm
Publications
[1] Hoffmann V., Mai H., Kapitel 11.9 Compacted Powders S. 551 - 562 in R. Payling, D.G. Jones, A. Bengtson, Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy, John Wiley & Sons (1997), ISBN 0-471-96683-5
[2] Hoffmann V., Ehrlich G., Investigations on the Lateral Distribution of the Emission Line Intensities in the Plasma of a Grimm-Type Glow Discharge Source; Spectrochim. Acta 50B, Nos.4-7, 1995, 607-616
[3] Oswald S., Hoffmann V., Ehrlich G., Contributions to Computer-Aided Interpretation of Ion Sputtering Depth Profiling, Spectrochim. Acta B - SAE 49/11, 1994, 1123-1145 [4] Präßler F., Hoffmann V., Schumann J., Wetzig K., Comparison of Depth Resolution for Direct Current and Radiofrequency Modes in Glow Discharge Optical Emission Spectrometry, J. Anal. At. Spectrosc., Vol. 10, 1995, 677-680
[5] Präßler F., Hoffmann V.,Schumann J., Wetzig K., Quantitative Depth Profiling in Glow Discharge Spectroscopies - A New Deconvolution Technique to Separate Effects of an Uneven Erosion Crater Shape, Fresenius’ J. Anal. Chem. 355, 1996, 840-846
[6] Hoffmann V., Uhlemann H.-J., Präßler F., Wetzig K., Birus D., New Hardware for Radiofrequency Powered Glow Discharge Spectroscopies and its Capabilities for Analytical Applications, Fresenius’ J. Anal. Chem. 355, 1996, 826-830
[7] Hommann P., Präßler F., Hoffmann, Hänström S., Bengtson A., Investigation of Ar Emission Lines as Control Parameters in Glow Discharge Optical Emission Spectrometry (GD-OES), Luxemburger Spektrometrie Konferenz 1998
[8] Hoffmann V., Kurt R., Kämmer K., Thielsch R., Wirth Th., and Beck U., Interference phenomena at transparent layers in GD-OES, Appl. Spectrosc., 53, 8, 1999, 987-990
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