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Panalytical X‘PertPro MRD diffractometer
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Panalytical X‘PertPro MRD diffractometer
Laboratory X-ray diffraction
Technical details
Geometry: high-resolution XRD, grazing incidence, reflectometry, reciprocal space mapping
X-ray tube: Copper
Samples: thin films
Sample environment: ambient conditions, elevated temperature (up to 300°C)
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from
Solidification Processes
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Dr. Ivan Kaban
Structure Analysis
-252
i.kaban(at)ifw-dresden.de