Unsere Leistung beinhaltet die Visualisierung von magnetischen Domänen (in-plane und out-of-plane) auf Probenoberflächen mittels magneto-optischer Kerr-Mikroskopie.
| Höchste Auflösung | 200 nm |
| Externe magnetische Feldstärke | bis zu 1 Tesla (abhängig der Probengröße und -form) |
| Temperaturbereich | 10 - 800 K |
| Angewendetes Licht | Blau, Rot und Weiß |
| Methoden | Direkt Kerr,-Mikroskopie MOIF (magneto-optic indicator films) |
| Lokale und globale Messung von Magnetisierungsschleifen durch magneto-optische (MOKE) Magnetometrie |
| Quantitative Analyse des magnetischen Domänenmusters für dünne magnetische Schichten |
| Analyse der in-plane magnetischen Anisotropie in der Ebene in magnetischen Dünn- und Dickschichten |
| Beobachtung der Domänen von Elektrostahlblechen in Epstein-Geometrie (30 x 300 mm, Blechdicke variabel) und amorphen und nanokristallinen Bändern üblicher Geometrien |
I.V. Soldatov & R. Schäfer, Selective sensitivity in Kerr microscopy, Rev. Scient. Instr. 88, 073701, 2017 (https://doi.org/10.1063/1.4991820)
