Mikroskopie und Computertomographie

  • Hersteller: Zeiss
  • Elektronenquelle: Schottky-Feldemissionskanone
  • Beschleunigungsspannung: 0,2–30 kV
  • Hochauflösende Bildgebung mit SE-, BSE- und InLens-Detektoren bis zu 3 nm
  • Vergrößerung: 20×–900.000×
  • 5-Achsen-Probenhalter ermöglicht Kippen und Rotation
  • Elementanalyse mittels EDX (Bruker XFlash 4010)
  • Analyse von Korngrößen und Strukturen mittels EBSD (Bruker e-FlashHR+)
  • Untersuchungen an magnetischen Proben möglich
  • Erweiterungen: Heiztisch bis 500 °C, DDS32 Zug/Druck-Modul (K&W), TKD-Kopf für EBSD-Detektor
  • Hersteller: Keyence
  • Vergrößerung: 20×–2500×
  • Auflösung: 2048 x 1536 Pixel
  • Schnelle Vermessung von Objekten und Merkmalen
  • Automatische Partikelmessung
  • Erstellung von 3D-Flächen oder 3D-Modellen einschließlich Höhenprofil
  • Softwareseitige Bildverbesserung durch Glanzentfernung, HDR etc.
  • Beleuchtung und Betrachtung aus verschiedenen Winkeln durch Kippen des Kamerakopfes

Röntgenabsorptions-Computertomografie ist ein zerstörungsfreies Bildgebungsverfahren zur Analyse der inneren Beschaffenheit fester Objekte und ermöglicht die Unterscheidung zwischen verschiedenen Phasen (einschließlich Defekten und Poren) aufgrund ihrer unterschiedlichen Absorptionseigenschaften.

  • 180 kV Wolfram-Röntgenröhre mit Makro- und Nanofokus-Modus (für kleinere Brennfleckgrößen und höhere Auflösungen)
  • Al- und Cu-Filter (0,2 bis 1 mm)
  • 2D-Flachdetektor aus amorphem Silizium (DXR500L), 3070×2400 Pixel (100 µm Pixelpitch), CsI- Szintillator, minimale Belichtungszeit 500 ms
  • Vergrößerung (geometrisch-optisch) bis zu 300×
  • Voxelgröße bis 500 nm (üblich 2–6 µm)
  • Probengröße (Durchmesser): bis 5 mm für Fe-basierte Proben, bis 20 mm für Al-basierte Proben
  • Maximale Auflösung: 0,5 µm
  • Scanmodi: Sectionscan, Fastscan, Singlescan, Multiscan
  • Software: GE datos Acquisition 2.0, GE datos Reconstruction 2.0 (mit Strahlhärtungskorrekturalgorithmus), Visual Studio VG Studio Max 2.2, FEI AvizoFire 8.1 & 9